芯片测试座运维成本居高不下？飞时通这款可单独更换探针

在半导体测试环节，测试座作为高频损耗耗材，长期运维成本是企业采购的核心考量因素之一。传统一体式芯片测试座普遍存在单根探针损坏即整体报废的问题，尤其是小批量多批次测试场景下，耗材损耗成本居高不下。针对这一成本痛点，深圳飞时通推出可单换探针的旋钮式 POGO PIN 芯片测试座，从结构设计上降低长期运维成本。

这款测试座采用模块化探针设计，支持单根探针独立更换，当个别探针出现磨损、氧化或损坏时，仅需替换对应探针即可恢复使用，无需将整个测试座报废更换，相比传统一体式测试座，耗材利用率大幅提升，长期使用成本可降低数成。对于测试品类多、频次高的研发与质检场景，这一设计的成本优势尤为显著。

除了低运维成本的优势，这款产品的核心性能同样出色。其采用旋钮式六面多围推动结构，手动平衡压合操作便捷，对位精准；探针孔直径最小 0.15mm，测试点最小间距 0.2mm，适配 BGA、QFN、CSP 等多种主流封装芯片；高频宽达 9.6GHz，接触电阻＜40mΩ，信号传输稳定，测试数据精准可靠，同时支持高低温测试环境，覆盖多元测试场景。

飞时通作为广东专业的半导体测试治具制造商，拥有东莞精密加工基地，核心部件自主生产，产品品质与交付周期可控。企业可根据客户的测试需求提供定制化服务，适配不同规格芯片的测试需求，是半导体企业降本提效的优质合作伙伴。