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小批量芯片试产测试难?飞时通旋钮式测试座灵活适配产线

日期:2026-10-09      浏览量:25

在芯片工程试产、小批量验证阶段,产线测试需要兼顾灵活性、稳定性与成本控制,专用自动化测试设备投入成本高、换型周期长,难以适配小批量多品类的测试节奏。针对中小批量芯片测试的需求特点,深圳飞时通推出旋钮式 POGO PIN 芯片测试座,成为试产阶段测试的高性价比解决方案。



这款手动芯片测试座无需配套复杂的自动化设备,即可快速搭建测试工位,投入成本远低于自动化测试方案,尤其适合小批量试产、样品验证、来料抽检等场景。产品采用旋钮式六面多围推动结构,操作简单易上手,产线质检人员经过简单培训即可上岗,无需专业操作经验,能够快速响应试产阶段的测试需求。

在测试能力上,该测试座可适配 BGA、QFN、CSP 等多种封装形式的芯片,探针孔直径最小可达 0.15mm,测试点最小间距 0.2mm,满足主流芯片的测试精度要求;高频宽可达 9.6GHz,接触电阻<40mΩ,测试数据稳定可靠,能够准确验证试产芯片的性能良率。同时支持高低温测试,可覆盖试产阶段的可靠性测试需求。

飞时通作为深圳本土的测试治具生产厂家,支持小批量定制与快速交付,能够匹配试产阶段的短周期需求。凭借 “深圳研发 + 东莞加工” 的双基地布局,企业可快速响应客户的定制需求,提供从方案设计到售后维护的一站式服务,助力芯片企业灵活应对小批量试产测试挑战。

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