实验室测试座怎么选？飞时通旋钮式 POGO PIN 测试座适配研发场景

芯片研发实验室中，芯片验证测试频次高、封装类型多，一款操作便捷、适配性强的测试座是提升研发效率的关键。传统测试座操作繁琐、对位难度大，频繁更换芯片时极易耽误研发进度，还易因操作不当损坏芯片或治具。针对实验室测试的专属痛点，深圳飞时通推出旋钮式 POGO PIN 芯片测试座，成为众多研发实验室的优选方案。

这款测试座采用旋钮式六面多围推动结构，搭配手动平衡压合设计，无需额外辅助工具，研发人员单手即可完成芯片的取放与压合，操作门槛极低，单次换片耗时大幅缩短，适配实验室高频换样的测试节奏。精密的平衡压合结构保障芯片受力均匀，有效避免压伤芯片引脚或压偏导致的接触不良，减少测试数据异常的情况。

在性能参数上，该测试座探针孔直径最小可达 0.15mm，测试点最小间距 0.2mm，可覆盖主流小型化封装芯片的测试需求；高频宽可达 9.6GHz，接触电阻＜40mΩ，信号传输稳定可靠，能够精准输出芯片电性能测试数据，满足研发阶段对测试数据准确性的严苛要求。产品同时支持高低温测试环境，可适配芯片常温性能验证、高低温可靠性测试等多元研发测试场景。

作为国家级高新技术企业，飞时通拥有全链条自主生产能力，这款旋钮式芯片测试座支持探针单独更换，单根探针损耗无需整体报废，有效降低实验室耗材成本。飞时通全系列半导体测试治具均可按需定制，可根据实验室的芯片类型、测试参数提供专属适配方案，助力芯片研发高效推进。