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BGA测试治具研发难点解析——深圳飞时通的创新实践

来源:飞时通

发布时间:2025-04-21

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BGA封装芯片因高密度焊球布局,测试难度位居行业前列。深圳市飞时通科技有限公司作为深圳治具厂家代表,通过材料创新与智能化技术,打造高精度BGA测试治具,成为华为、比亚迪等企业的长期合作伙伴。

1. BGA测试的三大技术壁垒

  • 微米级对位精度:0.2mm间距焊球需治具定位误差≤±0.005mm;

  • 多通道信号同步:128通道以上测试需避免信号串扰;

  • 高温稳定性:持续测试下治具变形量需控制在0.01mm内。

2. 飞时通的半导体测试解决方案

飞时通技术团队突破行业瓶颈,推出两项创新:

  • 复合型探针阵列:融合垂直探针与弹簧探针优势,适配不同BGA封装高度;

  • 智能温控系统:通过嵌入式传感器实时调节治具温度,确保测试环境一致性。
    某存储芯片厂商采用该方案后,BGA测试误判率从3.2%降至0.8%。

3. 本地化服务的效率优势

作为扎根深圳的治具厂家,飞时通依托珠三角供应链资源,可实现BGA治具48小时快速打样,7天内交付量产方案。其半导体测试解决方案已覆盖汽车电子、物联网终端等高端领域。

结语:在半导体测试领域,飞时通以技术硬实力与深圳治具厂家的敏捷服务,重新定义BGA测试标准。


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