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旋钮式 POGO PIN 芯片测试座:飞时通打造半导体研发测试高性价比方案

日期:2026-08-14      浏览量:39

在半导体芯片研发验证、工程试产与小批量抽检场景中,手动芯片测试座的操作效率、测试稳定性与后期维护成本,直接影响项目推进节奏。传统一体式测试座普遍存在操作繁琐、对位偏差大、单根探针损坏即整体报废的痛点,大幅拉高研发阶段的测试耗材成本。针对这一行业痛点,深圳飞时通推出旋钮式 POGO PIN 芯片测试座,以便捷操作、稳定性能与低运维成本,成为半导体手动测试场景的高性价比选型。

该款测试座采用旋钮式六面多围推动结构,搭配手动平衡压合设计,无需专用工具即可完成芯片取放与压合,单手即可操作,上手门槛极低。精密的结构设计保障了芯片压合过程受力均匀,对位精准可控,有效避免压偏、接触不良导致的测试数据异常,尤其适配实验室、研发工位等频繁更换芯片的高频测试场景。
在核心测试性能上,这款 POGO PIN 芯片测试座的探针孔直径最小可达 0.15mm,测试点最小间距 0.2mm,可满足小型化、细间距封装芯片的测试需求;高频宽可达 9.6GHz,接触电阻<40mΩ,信号传输损耗低、稳定性强,能够适配高速芯片的电性能测试。产品支持高低温测试环境,结构热稳定性优异,可覆盖芯片常温验证、高低温可靠性筛选等多场景测试需求,全面适配 BGA、QFN、CSP 等主流封装形式的芯片。
尤为突出的是,该测试座支持探针单独更换,单根探针损耗后无需整体报废,仅需替换对应探针即可恢复使用,大幅降低长期运维成本。作为广东专业的半导体测试治具制造商,飞时通拥有全链条自主生产能力与数十项自主知识产权,全系列芯片测试座、半导体测试治具均可按需定制,可根据芯片封装规格、测试参数与使用场景提供专属解决方案,助力芯片研发与生产环节降本提效。

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